考虑空间电离辐射耦合的SOI器件NBTI失效机理与模型研究

项目负责人彭超
依托单位工业和信息化部电子第五研究所
立项年份2017
学科分类集成电路器件、制造与封装
资助来源国家自然科学基金
项目状态已立项
资助金额¥25.0万
批准号61704031

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